测试MCU工作电压是否在范围内，电压过高可能会造成MCU损坏，电压过低会影响MCU的外围电路驱动能力，甚至可能会导致外围电路无法正常工作。

　　静态电流是衡量MCU性能的主要参数之一，静态电流越小越好，根据MCU规格书测试静态电流是否符合要求，一旦MCU有损坏的话，静态电流就会变大，会增加产品的静耗，致使产品整体功耗增加。

　　比如外接晶振型MCU，需要检测正常工作下它的晶振输入脚的振荡频率是否正确。振荡频率不符合要求会影响到产品的定时及延时，甚至无法正常运行。

　　检测MCU基本功能能否正常工作，如检查输入输出端口时钟、存储器、验证芯片内部逻辑电路是否按照设计要求运行等。

　　1. 兼容2000+仪器信号，内含多种测试项目，无代码编程模式，根据MCU测试项目及参数，快速搭建方案，一键运行测试。

　　3. 数据洞察功能会将MCU芯片的测试数据自动采集存储，无需手动记录，避免记录出错，节省记录时间。此外以图表形式展示测试数据，便于观测数据变化情况，多测试数据进行度分析。

　　5. 可以自定义数据报告，支持修改，报告模板多样化，可以自由选型，支持word、excel格式导出。